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更新時間:2025-12-26
瀏覽次數:517Surtronic S116 粗糙度儀
Surtronic S116是泰勒霍普森實驗室和質量控制中心推出的粗糙度儀。該儀器采用高剛性花崗巖基座與精密導軌系統,確保測量過程中的穩定性,垂直分辨率可達0.1 nm,行程長度達16 mm,滿足最嚴苛的表面評估需求。S116支持全自動測量流程,包括自動校準、自動定位、多點測量與統計分析,兼容ISO、ASME、JIS等多種國際標準。其配套的TalyProfile軟件提供*的數據處理能力,可生成3D輪廓圖、頻譜分析、濾波曲線及定制化報告。設備還配備電動升降Z軸和可編程X軸驅動,實現無人值守批量檢測。Surtronic S116廣泛應用于半導體、醫療器械、精密軸承和科研領域,是追求高重復性、高精度表面粗糙度分析用戶的理想選擇。
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