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fischerscope x-ray xul xym上海
產品型號：廠商性質：代理商更新時間：2025-05-27訪 問 量：3850
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FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀簡介
一一一耐用且價格便宜的X射線熒光測量儀，用于無損涂層厚度測量和材料分析。
FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。XUL型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。本款儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。它配備了一個固定的準直器和濾片，射線管出射點稍大，非常適合測量點在1mm以上的應用。低能射線元件激發效率較低；但是對于標準的測量典型電鍍層厚度的應用，如Cr、Ni、Cu，沒有任何問題。
在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量
在連接器和電氣元件上的測量
電鍍液的溶液成分分析
測量PCB板上:Au/Ni/Cu/PCB |
黃金珠寶檢測 |
連接器:Au/Ni/CuSn6 |
防腐保護: Zn/Fe |
FISCHERSCOPE X-RAY XUL設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應不同的樣品平臺：
XUL： 固定平面平臺
XUL XYm： 手動X/Y平臺
一高分辨的彩色攝像頭配以*的放大功能，可以定位測量位置。
一盡管儀器本身結構緊湊，但是由于XUL光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。
一外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。
一通過*而界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。
一XUL型光譜儀是安全而保護全面的測量儀器，型式許可符合德國"Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法令要求
樣品臺 | XUL | XUL XYm |
設計 | 固定樣品平臺 | 手動XY平臺 |
X/Y方向*大可移動范圍 | - | 50 x 50 mm |
樣品放置可用區域 | 250 x 280mm | |
樣品*大重量 | 2kg | |
樣品*高高度 | 240mm | |
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